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1.可測(cè)量0.01um-300um的鍍層。
2.可做各種鍍層(多層、合金、多層鎳)的精密測(cè)量。
3.除平板形外,還可測(cè)量圓形、棒形(細(xì)線)等各種形狀。
4.可制作非破壞性膜厚儀的標(biāo)準(zhǔn)板。
5.該電鍍膜厚檢測(cè)儀可檢查非破壞式膜厚儀的測(cè)量精度。
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