產品簡介
高壓在片測試系統專為研發設備表征/建模或利基生產應用而設計，可在-60°C 至 +300°C溫度范圍內進行精確的電氣測量，適用于超低噪聲，DC，RF，mmW和THz應用，并具有半自動和全自動操作，可用于最快時間獲取準確數據。
采用PureLine、AutoGuard 和新一代 MicroChamber 技術實現高準確度 IV/CV、低噪聲和 1/f 測量的最佳解決方案
可配置功率電平：
? 200V 至 3kV
? 1A 至 100A
寬動態范圍：
? μV 至 3kV
? fA 至 100A
全量程容-電壓 (C-V) 能力：
? fF 至 μF
? 支持2、3 和 4 端器件
? 高達3kV DC 偏移
典型配置
2600-PCT-xB 高功率參數測試儀
SUMMIT200全自動探針臺
產品應用
IV/CV，RF/mmW，失效分析，WLR，MEMS
MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件開發應用
