故障分析與設計調試
穩定的顯微鏡橋設計和XY顯微鏡，放大倍數高達4000倍（可選）
激光切割機和相機準備就緒
觸點亞微米特征
同時使用探針卡和單針（選件）
用于單個 DUT 的芯片載物臺
從晶圓至芯片至封裝的極快轉移
具有1μm功能分辨率的真空定位器
具有納米級分辨率和準確度的 DPP450 針座（選項）
產品手冊 下載
