FormFactor/Cascade MPS150-SiPh_硅光子學手動探針臺

1. 鏡面技術

• 獨特的 DUT 支架可實現高精度水平觀察

• CalVue 和 DieVue 使用戶能夠調整光學探頭以實現最佳測量性能

• 允許單根光纖和光纖陣列的表面耦合和水平邊緣耦合

2.傾斜底座定位器

• 手動或自動調整 6 個自由度的入射角

• 利用標準光纖支架

3.光學性能

• 系統可以配備FormFactor革命性的eVue數字成像系統或高性能SlimVue顯微鏡

• eVue 的革命性設計在光學分辨率、數字變焦和實時動態視頻之間實現了完美平衡。該系統能夠比以往任何時候都更快、更智能地導航、觀察和測量設備。

• SlimVue?顯微鏡減輕了光子學集成電路（PIC）上小焊盤探測所需的高放大倍率光學元件的機械干擾。

• 該系統使用戶能夠比以往更快、更智能地導航、觀察和測量設備

• Spectrum 軟件允許用戶測量 z 位移

4.模塊化解決方案

• 如果用戶的測量要求發生變化，可以很容易地更換探針硬件

• 提供最大的測量靈活性：壓板擴展可配置為執行 3 端口光子學和/或電氣測量

• 可以配置自動定位器以獲得更快的測量結果。

5.易用性

• 符合人體工程學的簡單設計，操作舒適輕松

• 直觀的操作工作流程使所有經驗水平的測量都盡可能簡單

• 通過拉出式平臺快速且符合人體工程學地更換 DUT